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掃描電鏡（SEM）中的工作距離（Working Distance，簡稱 WD）是指電子槍發(fā)出的電子束末端（物鏡極柱）到樣品表面的垂直距離。調節(jié)不當會對成像質量、景深、放大倍率等造成明顯影響。

下面是工作距離調節(jié)不當可能引發(fā)的幾個主要問題：

1. 圖像模糊、分辨率下降

如果 WD 太大，電子束聚焦能力減弱，成像點擴散，導致圖像變模糊，分辨率降低；

特別是在高放大倍率下，WD 應盡量小，以保持清晰度。

2. 景深過淺或過深影響觀測效果

WD 太?。弘m然分辨率高，但景深變淺，圖像中只有焦點處清楚，其他區(qū)域容易模糊；

WD 太大：景深增加但圖像整體清晰度下降，難以觀察精細結構。

3. 電子束照射角度不理想

WD 影響束斑大小和入射角；

若距離不適合，電子束可能不能以理想角度照射樣品，影響表面細節(jié)成像。

4. 導致對焦困難

工作距離偏離成像范圍時，對焦范圍變窄或需要反復微調，操作效率降低；

一些情況下會出現焦點丟失或無法聚焦。

5. 影響能譜分析（EDS）精度

EDS 探測器通常固定在一定角度和距離，WD 過小或過大會影響探測角度或遮擋探測器視角，導致信號弱或分析不準確；

通常 EDS 的 WD 為 10–15 mm。

6. 樣品臺可能碰撞極柱

WD 設置過小，在自動調焦或樣品升高時，樣品可能碰撞電子槍極柱，嚴重時會損壞設備或污染鏡筒。

7. 放大倍率受限

高倍率成像時，WD 需要足夠小，否則無法實現良好的圖像分辨率和束斑聚焦；

調節(jié)不當可能限制觀察的最大放大倍數。