電子束能量在掃描電鏡參數中的作用和調整方法
電子束能量是掃描電子顯微鏡（SEM）中的一個重要參數，對成像和樣品性能有顯著影響。
MORE INFO → 行業動態 2023-10-23
電子束能量是掃描電子顯微鏡（SEM）中的一個重要參數，對成像和樣品性能有顯著影響。
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掃描電鏡（SEM）用于觀察樣品的微觀結構和表面形貌。
MORE INFO → 行業動態 2023-10-20
掃描電鏡（SEM）是一種強大的成像工具，可以實現高分辨率的樣品成像。
MORE INFO → 行業動態 2023-10-20
10月26日-30日，2023年全國電子顯微學學術年會將在東莞市會展國際大酒店召開。澤攸科技將攜一眾先進科學儀器及新微納技術領域行業解決方案，誠邀您共赴盛會！本屆年會學術交流內容包括：球差校正透射電子顯微學及應用、原位顯微學技術（包括力學、物理、化學、生物等）及應用、高分辨掃描電子顯微學、微束分析、掃描探針顯微學（包括...
MORE INFO → 公司新聞 2023-10-19
對掃描電鏡（SEM）樣品進行金屬涂層或碳涂層處理是為了提高樣品的導電性，減少電荷積累，以獲得更好的SEM圖像。
MORE INFO → 行業動態 2023-10-19
在掃描電鏡（SEM）圖像中，偽影和畸變可能會影響到對樣品的正確觀察和分析。
MORE INFO → 行業動態 2023-10-19
臺式掃描電鏡（SEM）是一種非常有用的顯微鏡，它可以提供高分辨率的表面形貌圖像和材料的電子衍射模式。
MORE INFO → 行業動態 2023-10-18
進行臺式掃描電鏡（SEM）樣本的三維重建需要多個步驟，涉及到樣本的旋轉、成像、數據采集和后期處理。
MORE INFO → 行業動態 2023-10-18