掃描電鏡中的像差是什么？
在掃描電鏡成像過程中，像差是指由于透鏡系統的非完美性或電子光束的特性而引起的圖像失真或模糊。
MORE INFO → 行業動態 2023-08-16
在掃描電鏡成像過程中，像差是指由于透鏡系統的非完美性或電子光束的特性而引起的圖像失真或模糊。
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在掃描電鏡中，調整成像參數可以影響圖像的分辨率、對比度、深度和樣品表面的細節顯示。
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對于獲得的掃描電鏡圖像，可以使用各種圖像處理和增強方法來改善圖像質量、凸顯特定特征以及提取有用信息。
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掃描電鏡是一種高分辨率的顯微鏡，可以用來觀察材料的表面形貌和微觀結構。
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掃描電子顯微鏡（SEM）是一種常用于高分辨率表面形貌觀察的科學儀器。
MORE INFO → 行業動態 2023-08-14
掃描電子顯微鏡（SEM）中的探針電流是指掃描電子束照射到樣本表面時，每單位時間內被樣本表面吸收或散射的電子數量。
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在掃描電子顯微鏡（SEM）中，深度探針是指電子束在樣本表面掃描期間所能達到的深度范圍。
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掃描電子顯微鏡（SEM）的工作距離是指樣本表面到電子透鏡（或稱為物鏡）的距離。
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