什么是掃描電鏡次級電子圖像

在掃描電子顯微鏡（SEM）中，次級電子圖像是通過探測樣品表面產(chǎn)生的次級電子而獲得的圖像。

掃描電鏡圖像的深度信息如何獲取？

掃描電鏡（SEM）是一種利用電子束來觀察樣品表面微觀結(jié)構(gòu)的儀器。

樣品的選擇對掃描電鏡（SEM）成像有著重要的影響，因為不同的樣品特性和性質(zhì)需要不同的處理和準(zhǔn)備方法。

掃描電子顯微鏡（是一種利用電子束替代光子束來實(shí)現(xiàn)高分辨率成像的顯微鏡。

提高掃描電鏡的空間分辨率涉及多個因素，以下是一些可能的方法：

掃描電鏡的分辨率與工作距離之間存在關(guān)系。工作距離是指從電子槍到樣品表面的距離，它可以影響電子束的焦距和散焦度，從而影響成像的分辨率。

日前，澤攸科技攜新研發(fā)的ZEM系列臺式掃描電鏡，先后在西南交通大學(xué)九里校區(qū)、西南交通大學(xué)犀浦校區(qū)和電子科技大學(xué)舉辦為期10天的大學(xué)校園巡展活動，向師生展示該系列產(chǎn)品的優(yōu)異性能。

在掃描電鏡（SEM）中，觀察非導(dǎo)電樣品時會面臨電荷積聚、圖像漂移等問題。