掃描電鏡對樣品的顆粒大小沒有要求

臺掃電鏡（SEM）對樣品的顆粒大小并沒有嚴格的要求，但顆粒大小會影響成像效果和分析結果。

MORE INFO → 行業動態 2024-06-20

在使用臺掃電鏡分析樣品時工作距離對其觀察結果有何影響

在使用臺掃電鏡（SEM）分析樣品時，工作距離（working distance, WD）對觀察結果有顯著影響。

MORE INFO → 行業動態 2024-06-19

掃描電鏡低真空和高真空區別

掃描電子顯微鏡（SEM）在低真空和高真空模式下工作時存在一些顯著的區別。

MORE INFO → 行業動態 2024-06-18

如何提高掃描電鏡的放大倍數

提高掃描電子顯微鏡（SEM）的放大倍數是為了觀察樣品的更細微的結構和細節。

MORE INFO → 行業動態 2024-06-18

掃描電鏡工作距離越遠觀察區越大？

在掃描電子顯微鏡（SEM）中，工作距離（working distance，WD）是指電子束槍到樣品表面的距離。

MORE INFO → 行業動態 2024-06-14

掃描電鏡工作時鏡筒內的一般真空度要求

掃描電鏡（SEM）工作時鏡筒內的真空度是確保電子束正常傳輸和樣品表面電子散射檢測的重要因素。

MORE INFO → 行業動態 2024-06-14

掃描電鏡圖像粗糙程度分析

在掃描電子顯微鏡（SEM）圖像中分析表面粗糙度是研究材料表面特性的重要方面。表面粗糙度可以影響材料的物理、化學和機械性質，因此準確分析表面粗糙度在材料科學、工程和其他領域中非常重要。

MORE INFO → 行業動態 2024-06-13

掃描電鏡的BSE能做成分分析么

掃描電鏡（SEM）的背散射電子（BSE）圖像可以用于成分分析。背散射電子是從樣品中散射回來的高能量電子，其強度與樣品中原子序數的平均值有關。

MORE INFO → 行業動態 2024-06-13