中文
English

掃描電子顯微鏡（SEM）用于動態(tài)過程觀察，可以捕捉樣品在特定條件下的實時變化。要進行動態(tài)過程觀察，需要特定的設置和方法。以下是詳細步驟和注意事項：

1. 準備工作

確定實驗目的

確定要觀察的動態(tài)過程（如材料變形、化學反應、溫度變化等）。

選擇合適的樣品和實驗條件。

樣品制備

樣品尺寸：確保樣品尺寸適合SEM樣品臺。

樣品固定：使用導電膠或?qū)щ娔z帶將樣品固定在樣品臺上，確保穩(wěn)定性。

涂覆導電層：如果樣品不導電，可以涂覆一層導電材料（如金、碳）以減少充電效應。

2. SEM設置

選擇適當?shù)腟EM模式

高真空模式：適用于大多數(shù)樣品，但可能會對一些敏感樣品造成損害。

低真空或環(huán)境模式：適用于濕潤或非導電樣品，減少樣品損傷和充電效應。

設置加速電壓和束流電流

加速電壓：選擇適當?shù)募铀匐妷?，通常?-30 kV之間，根據(jù)樣品特性和觀察深度選擇。

束流電流：調(diào)節(jié)束流電流以獲得清晰的圖像，同時避免樣品損傷。

樣品臺控制

使用帶有溫控、傾斜或旋轉功能的樣品臺，可以在不同環(huán)境條件下觀察樣品動態(tài)變化。

3. 動態(tài)過程觀察

加熱樣品

加熱樣品臺：使用具有加熱功能的樣品臺，可以實時觀察樣品在加熱過程中的變化。

控溫范圍：根據(jù)實驗需求設置合適的溫度范圍。

氣體環(huán)境控制

氣體流動系統(tǒng)：在SEM腔體內(nèi)引入特定氣體環(huán)境（如氧氣、氮氣），觀察樣品在不同氣氛下的反應。

壓力控制：調(diào)節(jié)SEM腔體內(nèi)的壓力，適應不同實驗需求。

原位機械測試

納米壓痕儀：在SEM內(nèi)進行納米壓痕測試，觀察材料的變形和斷裂過程。

拉伸臺：使用帶有拉伸功能的樣品臺，觀察材料在拉伸過程中的動態(tài)變化。

4. 圖像和數(shù)據(jù)采集

實時圖像采集

使用高速攝像頭或視頻記錄功能，實時捕捉樣品變化過程。

調(diào)節(jié)圖像采集速度和分辨率，確保圖像質(zhì)量和數(shù)據(jù)連貫性。

數(shù)據(jù)處理和分析

使用圖像處理軟件分析動態(tài)過程中的關鍵幀，提取有用信息。

記錄實驗條件和參數(shù)，以便后續(xù)分析和重復實驗。

示例操作步驟

示例1：觀察樣品在加熱過程中的變化

樣品制備和安裝：

準備好樣品，并用導電膠固定在具有加熱功能的樣品臺上。

SEM設置：

選擇高真空模式，加速電壓設置為10 kV，束流電流適中。

將樣品臺插入SEM腔體，并連接加熱控制系統(tǒng)。

加熱樣品：

設置初始溫度（如室溫），開始觀察樣品。

緩慢增加溫度，每隔一定時間（如每10℃）拍攝一張圖像或進行視頻記錄。

圖像和數(shù)據(jù)采集：

實時記錄樣品在不同溫度下的變化。

分析圖像，提取關鍵變化點（如相變、形貌變化等）。

示例2：觀察樣品在特定氣體環(huán)境下的反應

樣品制備和安裝：

準備好樣品，并用導電膠固定在樣品臺上。

SEM設置：

選擇低真空模式，加速電壓設置為15 kV，束流電流適中。

將樣品臺插入SEM腔體，并連接氣體流動系統(tǒng)。

氣體環(huán)境控制：

調(diào)節(jié)SEM腔體內(nèi)的氣體環(huán)境，通入所需氣體（如氧氣、氮氣），設定合適的壓力。

開始觀察樣品，記錄樣品在不同氣體環(huán)境下的變化。

圖像和數(shù)據(jù)采集：

實時記錄樣品在不同氣體環(huán)境下的反應過程。

分析圖像，提取樣品反應的關鍵點（如表面氧化、形貌變化等）。

注意事項

樣品穩(wěn)定性：確保樣品在動態(tài)過程觀察中保持穩(wěn)定，避免因樣品移動影響觀測結果。

安全操作：在操作SEM和處理氣體時，遵循安全規(guī)程，防止發(fā)生意外。

數(shù)據(jù)備份：定期備份圖像和數(shù)據(jù)，防止數(shù)據(jù)丟失。

以上就是澤攸科技小編分享的如何進行掃描電鏡的動態(tài)過程觀察的介紹。更多掃描電鏡產(chǎn)品及價格請咨詢