透射電鏡與臺式掃描電鏡：不同的成像原理
日期：2024-02-23
透射電鏡（TEM）和臺式掃描電鏡（SEM）是兩種常用的電子顯微鏡，它們在成像原理和應(yīng)用方面有著顯著的差異。
透射電鏡 (TEM)：
成像原理：透射電鏡通過將電子束穿過樣品并收集通過樣品的電子來形成圖像。樣品被制成很薄的切片，通常在納米到微米的厚度范圍內(nèi)。電子束在樣品中與原子發(fā)生相互作用，其傳輸過程受到樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的影響，從而產(chǎn)生高分辨率的二維投影圖像。
應(yīng)用：透射電鏡常用于研究生物學(xué)、材料科學(xué)、納米科學(xué)等領(lǐng)域，可以觀察到原子尺度上的細(xì)節(jié)結(jié)構(gòu)，如晶體排列、原子間距等。
臺式掃描電鏡 (SEM)：
成像原理：臺式掃描電鏡則通過掃描電子束在樣品表面上的反射或二次電子發(fā)射來生成圖像。電子束在樣品表面掃描，與樣品表面的原子和分子相互作用，產(chǎn)生出反射電子、散射電子以及二次電子等。這些信號被收集和轉(zhuǎn)換成圖像，從而形成樣品表面的三維外觀。
應(yīng)用：SEM廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物學(xué)、地質(zhì)學(xué)等領(lǐng)域，能夠提供高分辨率的表面形貌信息，如紋理、形貌、表面粗糙度等。
因此，透射電鏡和臺式掃描電鏡在成像原理、適用范圍和分辨率等方面存在顯著差異，各自在不同領(lǐng)域有著獨特的應(yīng)用優(yōu)勢。
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作者：澤攸科技