掃描電鏡與傳統光學顯微鏡的區別
日期：2023-11-29
掃描電鏡（SEM）和傳統光學顯微鏡在原理、分辨率、樣品類型以及應用方面有一些顯著的區別：
原理：
光學顯微鏡： 使用可見光的折射原理，通過透射或反射光線來放大和觀察樣品。
掃描電鏡： 使用電子束的散射和反射原理。電子束的波長遠小于可見光，因此具有更高的分辨率。
分辨率：
光學顯微鏡： 有限的分辨率，通常在微米級別。
掃描電鏡： 具有較高的分辨率，通常在納米級別，能夠顯示更小的細節。
樣品類型：
光學顯微鏡： 主要適用于透明薄片、細胞和組織等生物樣品。
掃描電鏡： 對于導電性的樣品更為適用，包括金屬、合金、陶瓷等。非導電性樣品需要進行涂層或其他處理以增加導電性。
深度：
光學顯微鏡： 只能觀察樣品表面，無法深入樣品內部。
掃描電鏡： 能夠提供更深入的樣品內部結構信息，通過切面等方法可以觀察材料的截面。
放大倍數：
光學顯微鏡： 放大倍數在千倍級別。
掃描電鏡： 具有更高的放大倍數，可以達到數十萬倍以上。
成本：
光學顯微鏡： 相對較低的成本。
掃描電鏡： 昂貴，維護和操作成本相對較高。
圖像類型：
光學顯微鏡： 得到透射或反射的亮場或暗場圖像。
掃描電鏡： 得到樣品表面的三維立體圖像。
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作者：澤攸科技
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