掃描電鏡圖像中的深度信息如何獲得？
日期：2023-08-21
傳統的掃描電鏡是一種使用電子束而不是光束的顯微鏡，因此無法直接獲取樣品的真實深度信息。SEM主要提供表面形貌的二維圖像，不同深度的特征通常會在圖像上疊加顯示。
然而，有一些技術和方法可以在SEM圖像中獲取一些關于深度信息的提示：
傾斜拍攝：通過在不同的角度進行樣品拍攝，可以獲得來自不同方向的信息。這些圖像可以用于生成三維效果的圖像，雖然不能提供深度信息，但可以給觀察者一種立體感。
多焦點圖像：通過在不同焦平面上進行多次掃描，可以獲取不同深度上的圖像。將這些圖像疊加或處理，可以獲得一些關于表面之上的深度信息。
表面形貌變化：通過觀察SEM圖像中的陰影、明暗變化和紋理等特征，可以對樣品的表面形貌變化和深度差異有一定的了解。然而，這種方法并不準確，只能提供一些感性的深度信息。
SEM與其它技術的結合：將SEM與其它技術，如離子束切割、原子力顯微鏡（AFM）等相結合，可以獲得更多的深度信息。例如，通過離子束切割可以在樣品上制作橫截面，然后用SEM觀察這些橫截面，從而獲得一定的深度信息。
以上就是澤攸科技小編分享的掃描電鏡圖像中的深度信息如何獲得。更多掃描電鏡產品及價格請咨詢
TAG：
作者：澤攸科技
上一篇：掃描電鏡圖像如何進行空間分辨率校準
下一篇：掃描電鏡如何消除樣品表面電荷的影響？