臺式掃描電鏡的樣品準備過程中需要注意哪些關鍵因素
日期：2023-06-19
在臺式掃描電鏡（SEM）的樣品準備過程中，有幾個關鍵因素需要注意。這些因素可以確保獲得高質量的顯微鏡圖像和準確的分析結果。以下是一些需要考慮的關鍵因素：
樣品準備技術：樣品準備技術是非常重要的，它會直接影響到SEM圖像的質量。樣品須被正確地制備和處理，以確保表面平整、無塵。常見的樣品準備技術包括金屬噴鍍、碳噴鍍、薄片切割、化學固定和脫水等。
樣品固定：樣品在準備過程中需要被固定以保持其形狀和結構。這可以通過化學固定、冷凍固定、熱固定或機械固定等方式實現。正確的樣品固定可以避免在掃描過程中出現形狀變形或移位的問題。
去除表面電荷：在掃描電子顯微鏡中，樣品表面的電荷可能會導致圖像的失真或偽影。為了減少表面電荷，可以使用導電涂層（如金屬噴鍍）或進行表面處理（如碳噴鍍）。
樣品干燥：樣品須在進入掃描電子顯微鏡之前完全干燥，以避免水分引起的圖像模糊或電子束的散射。常用的干燥方法包括自然干燥、冷凍干燥和臨界點干燥等。
樣品尺寸和形狀：在樣品準備過程中，需要考慮樣品的尺寸和形狀是否適合SEM的觀察。樣品尺寸應適合樣品臺的尺寸，并且在觀察過程中不會遮擋電子束的路徑。
樣品標記和定位：對于復雜的樣品，準確的標記和定位是非常重要的。樣品標記和定位技術可以幫助您準確定位感興趣區域，以便進行高分辨率的觀察和分析。
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作者：澤攸科技
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