掃描電鏡樣品制備流程
日期：2023-04-24
掃描電鏡（SEM）是通過掃描樣品表面并利用電子束與樣品相互作用來生成高分辨率圖像的一種顯微鏡。樣品制備是獲得高質量SEM圖像的關鍵步驟之一。
下面是一般的掃描電鏡樣品制備流程：
樣品收集和處理：根據研究目的，從原始樣品中選取適當的區域，通過化學或物理方法進行預處理，如去除雜質、固定或染色。
樣品切割或研磨：將樣品切割或研磨到合適的大小和形狀，通常需要將樣品固定在一個金屬或導電底座上。
粗加工：使用粗砂紙或金屬切割工具將樣品表面加工平整，以消除表面凹凸不平和不規則形狀。
微加工：使用細砂紙或拋光工具進一步加工樣品表面，使其表面更加平整和光滑。
清潔和干燥：使用清潔劑清洗樣品表面以去除殘留物和油脂，并將其干燥。
真空處理：將樣品放入掃描電鏡室內，進行真空處理，以消除空氣分子和水分對電子束的干擾。
制備鍍膜：在樣品表面制備薄的導電涂層或金屬蒸發鍍膜，以提高樣品的導電性和顯微圖像的質量。
SEM觀察：將樣品放入SEM，調整顯微鏡的參數（如加速電壓、電子束聚焦、電子束掃描速度等），并獲得高分辨率圖像。
不同的樣品需要不同的制備方法。在制備過程中，一定要小心謹慎，避免對樣品造成損害，并確保樣品符合SEM觀察的要求。
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作者：澤攸科技
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