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處理和觀察非導電樣品是臺式掃描電鏡（SEM）中的一個常見問題，因為傳統的SEM通常需要樣品具有一定的導電性才能獲得良好的圖像質量。以下是處理和觀察非導電樣品的一些方法和技術：

樣品處理前的準備：

導電涂層： 將非導電樣品表面涂覆一層導電性材料，如金屬（通常使用金屬薄膜沉積儀器）或碳（使用碳濺射或碳噴涂儀器）。這些導電涂層可以提高樣品表面的導電性，從而改善電子束的導電性。

低真空模式：

一些現代臺式SEM設備具備低真空模式功能，允許在較低真空環境下觀察非導電樣品。這種模式下，樣品表面的氣體分子作為電子的散射源，使得即使在非導電條件下，也能夠獲得相對較好的圖像。

輔助導電涂層：

使用導電性粉末或噴劑（如導電粘貼劑），在樣品表面均勻覆蓋一層薄膜。這些粉末或噴劑在掃描電鏡中通常會快速蒸發，留下一個微薄的導電層，有助于提高電子束的導電性。

低能電子模式：

一些SEM設備具備低能電子模式，允許使用較低能量的電子束來觀察樣品。這種模式下，即使在非導電樣品上，也可以減少電子束的散射和表面充電效應，提高圖像的對比度和清晰度。

表面處理技術：

對于特定的非導電樣品，例如生物樣品或聚合物樣品，可以考慮使用特殊的表面處理技術，如化學修飾、冷凍切片或者冷凍干燥，以減少表面電荷效應并改善導電性。

樣品夾持和調整：

在加載樣品到SEM前，確保樣品夾持穩固并避免靜電積聚。準確調整SEM的工作距離和加速電壓，以減少表面電荷效應對圖像質量的影響。

這些方法通常可以結合使用，以便在臺式掃描電鏡中成功處理和觀察非導電樣品，獲得高質量的顯微圖像和數據。

以上就是澤攸科技小編分享的臺式掃描電鏡如何處理和觀察非導電樣品的介紹。更多掃描電鏡產品及價格請咨詢