如何通過掃描電鏡對材料表面形貌進行定量分析？
通過掃描電子顯微鏡（SEM）進行材料表面形貌的定量分析是一種常見且有效的方法。
MORE INFO → 行業動態 2023-07-25
通過掃描電子顯微鏡（SEM）進行材料表面形貌的定量分析是一種常見且有效的方法。
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在掃描電子顯微鏡（SEM）中，樣品表面充電是一個常見的問題。當樣品處于高真空環境下，并且受到來自電子束的照射時，可能會發生表面電子的發射和重新組合，導致樣品表面帶電。這會導致圖像失真、信號衰減以及可能損害樣品。
MORE INFO → 行業動態 2023-07-25
操作樣品桿來放置樣品需要一定的謹慎和技巧，以確保樣品正確放置在所需位置并保持穩定。
MORE INFO → 常見問題 2023-07-20
樣品桿的材料通常選擇能夠滿足特定應用需求的高質量材料。樣品桿需要具有足夠的穩定性、剛性和耐用性，以支撐和操縱樣品，并保持其在儀器中的正確位置。
MORE INFO → 常見問題 2023-07-20
樣品桿是一種用于支持和操縱樣品的裝置，它通常用于各種科學研究、實驗和分析儀器中。
MORE INFO → 常見問題 2023-07-20
臺式掃描電鏡（SEM）的樣品轉臺支持的角度范圍可以因不同的型號和廠家而異，但通常在一定角度范圍內具有一定的轉動能力。
MORE INFO → 行業動態 2023-07-20
臺式掃描電鏡（SEM）的工作模式是連續波模式，而不是脈沖波模式。
MORE INFO → 行業動態 2023-07-20
傳統的掃描電子顯微鏡通常不能用于觀察活細胞。
MORE INFO → 行業動態 2023-07-19