樣品桿在使用中出現(xiàn)松動，如何處理？

在使用過程中，如果樣品桿出現(xiàn)松動，需要立即處理以防止樣品損壞或數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確。

如何在樣品桿上安裝多種類型的樣品？

在樣品桿上安裝多種類型的樣品時(shí)，需要考慮樣品的形狀、尺寸、材料及所使用的分析設(shè)備。

6月26日至28日，華南半導(dǎo)體領(lǐng)域具有影響力和代表性的行業(yè)盛會SEMI-e 2024第六屆深圳半導(dǎo)體展將在深圳國際會展中心（寶安新館）拉開序幕。

臺掃電鏡（SEM）對樣品的顆粒大小并沒有嚴(yán)格的要求，但顆粒大小會影響成像效果和分析結(jié)果。

在使用臺掃電鏡（SEM）分析樣品時(shí)，工作距離（working distance, WD）對觀察結(jié)果有顯著影響。

掃描電子顯微鏡（SEM）在低真空和高真空模式下工作時(shí)存在一些顯著的區(qū)別。

提高掃描電子顯微鏡（SEM）的放大倍數(shù)是為了觀察樣品的更細(xì)微的結(jié)構(gòu)和細(xì)節(jié)。

中國化學(xué)會第34屆學(xué)術(shù)年會于2024年6月15日至18日在廣東省廣州國際白云會議中心舉行。