倒計(jì)時(shí)丨澤攸科技場發(fā)射臺(tái)掃即將亮相2024年全國電子顯微學(xué)學(xué)術(shù)年會(huì)

深入理解先進(jìn)材料的微觀形貌、結(jié)構(gòu)和化學(xué)成分是科研和產(chǎn)品開發(fā)的關(guān)鍵所在。

如何在掃描電鏡中進(jìn)行多區(qū)域的自動(dòng)化成像？

在掃描電子顯微鏡 (SEM) ?中進(jìn)行多區(qū)域的自動(dòng)化成像是提高效率和準(zhǔn)確性的重要方法，尤其是在對多個(gè)樣品區(qū)域進(jìn)行批量分析時(shí)。

在掃描電子顯微鏡 (SEM) ?中，對某些敏感樣品進(jìn)行冷凍處理可以顯著減少電子束損傷，特別是對一些生物樣品、聚合物或其他低導(dǎo)電性材料。

在掃描電子顯微鏡（SEM）?中，通常只能看到樣品的表面結(jié)構(gòu)，因?yàn)镾EM主要依賴表面電子的相互作用來產(chǎn)生圖像。

在掃描電子顯微鏡（SEM）?中，樣品的導(dǎo)電性對成像效果有很大的影響。對于非導(dǎo)電樣品，如生物樣品、陶瓷或高分子材料，常常需要進(jìn)行鍍膜處理來提高導(dǎo)電性，從而防止電荷積累，減少圖像偽影。

樣品桿的材質(zhì)選擇對實(shí)驗(yàn)結(jié)果有重要影響，特別是在掃描電鏡（SEM）、透射電鏡（TEM）等儀器中進(jìn)行高精度分析時(shí)。

使用掃描電子顯微鏡（SEM）?測量樣品的形貌和尺寸是其常見的應(yīng)用之一。

使用掃描電子顯微鏡（SEM）?檢測樣品中的孔隙和缺陷是一種常用的方法，尤其在材料科學(xué)、金屬加工、半導(dǎo)體和納米技術(shù)等領(lǐng)域中廣泛應(yīng)用。