原位透射電子顯微鏡光學-光電測量系統應用案例
原位透射電子顯微鏡光學-光電測量系統應用案例,CdS和ZnO都具有優秀的光電性能，被認為在光電探測器等領域有著廣闊的應用前景。但是，CdS一維材料存在低量子效率和低響應速度等問題，ZnO納
MORE INFO → SEM原位解決方案 2017-12-20
原位透射電子顯微鏡光學-光電測量系統應用案例,CdS和ZnO都具有優秀的光電性能，被認為在光電探測器等領域有著廣闊的應用前景。但是，CdS一維材料存在低量子效率和低響應速度等問題，ZnO納
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